激光平面干涉仪克隆及芯片解密简介

　
　　这款激光平面干涉仪是智联科技PCB抄板及芯片解密中心反向研发而成的。该仪器基于双光束等厚干涉原理，是一种使用方便的光学精密计量仪器，主要用于精密测量光学平面度。操作简单，性能优良。可应用于光学车间、实验室、计量室。
　　技术参数：
　　准直系统孔径：F/2.8
　　工作直径：D1=Φ146mm  D2=Φ140mm
　　焦距：f=400mm
　　测微目镜焦距：f=16.7mm,放大倍数β=15X，视场角2w=40°
　　成像物镜：I、D=4.5 П、D=7 Ш、D=10 f=16 f=23 f=37
　　干涉室尺寸：深260*宽300*190mm
　　光源规格激光：ZN18（He-Ne）
　　仪器的外形尺寸长*宽*高：350*400*720mm
　　仪器重量：100公斤
　　智联科技自成立以来一直从事PCB抄板、芯片解密、电路板克隆、样机制作及电子设备仿制的等反向技术研发，是目前国内最大最具权威性的反向技术研发的商业机构，欢迎有相关需求的朋友来电咨询及洽谈业务，我门将竭诚为您服务！