纳米粒度仪PCB抄板及逆向技术案例解析

　　这款纳米粒度仪是智联科技PCB抄板及芯片解密中心反向研发而成的。该仪器体积小巧，使用简单。能方便、快速、低成本测定纳米颗粒粒度。
　　技术参数：
　　测试范围：1-3000nm
　　准确度：<5%
　　重复性：<5%
　　激光：635nm
　　探测器：光电倍增管（PMT）
　　散射角：90°
　　样品池：10mm×10mm,3.5mL；5mm×5mm,0.3mL
　　测试温度控制范围：2-95℃
　　测试温度控制精度：0.1℃
　　环境温度：5-35℃
　　测试速度：<10Min
　　体积：480mm×390mm×380mm
　　重量：20Kg左右
　　性能特点：
　　采用动态光散射原理和光子相关光谱技术
　　先进的算法：累积法、R-R算法
　　高灵敏度与信噪比
　　极高的分辨能力（识别5ns）
　　超强的运算功能
　　稳定的光路系统，有很强的抗干扰能力
　　高精度的测试温度控制系统，控制精度达0.1℃
　　样品池恒温箱及恒温DI水供应系统
　　智联科技自成立以来一直从事PCB抄板、芯片解密、电路板克隆、样机制作及电子设备仿制的等反向技术研发，是目前国内最大最具权威性的反向技术研发的商业机构，欢迎有相关需求的朋友来电咨询及洽谈业务，我门将竭诚为您服务！