铁基涂层测厚仪PCB抄板与芯片解密案例

铁基涂层测厚仪PCB抄板与芯片解密案例

  这款铁基涂层测厚仪是智联科技PCB抄板芯片解密中心反向研发而成的。该仪器可用于测量铁磁性金属基体上的非导磁涂层的厚度,例如:漆、粉末、塑料、橡胶、合成材料、磷化层、铬、锌、铅、铝、锡、镉、瓷、珐琅、氧化层等。该仪器操作简单,携带方便。
  技术参数:
  测量范围:0-1000um/0-40mil
  最小曲面:F: 凸1.5mm/ 凹 25mm N: 凸 3mm/ 凹 50mm
  分 辨 率:0.1-1um
  最小测量面积:6mm
  最薄基底:0.3mm
  环境温度:0-40℃
  环境湿度:10-90%RH
  准 确 度: ±1~3%n 或 ±2.5um
  电    源: 4节5号电池
  外形尺寸: 161x69x32 mm
  重    量:210g左右
  性能特点:
  测量准确
  测量时间短
  数字显示,直观简便
  智联科技自成立以来一直从事PCB抄板、芯片解密、电路板克隆、样机制作及电子设备仿制的等反向技术研发,是目前国内最大最具权威性的反向技术研发的商业机构,欢迎有相关需求的朋友来电咨询及洽谈业务,我门将竭诚为您服务!