高速LED检测系统PCB抄板及克隆技术解析

　　该款高速LED检测系统是智联科技PCB抄板及芯片解密中心反向研发的，为符合测量精确及LED生产高速测试需求，整合了先锋科技研发的MegaLED-SGM CCD摄谱仪及高速的MegaLED-3000系列LED电性分析仪, MEGA LED TESTER可用来测试所有LED相关之光学与电性参数。
　　在生产过程中快速测量LED参数对于仪器是项特别的挑战，因为符合CIE的测量标准时，出光效率非常低；在这同时，确保生产设备可以有效益生产的运转，高速的测量时间是必要的，多项的LED的光学与电性参数测试均涵盖其中，不同封装的LED适用范围也必须由小的SMT设计以至于高功率的LED。
　　Spectral radiant flux ( W/nm ):绝对光谱
　　Peak wavelength (λp) : 最高波长
　　Dominant wavelength (Hue；λd )： 色域波长
　　Center wavelength (λc): 中心波长
　　Excitation Purity (Chroma；%): 色纯度
　　Chromaticity Coordinates (x,y @1931)：色坐标
　　C.C.T. (correlated color temperature)  : 色温
　　C.R.I. (color rendering index ) : 演色指数
　　该系统确保了主要的测量参数最高精确度及再现性，如LED主波长及的色坐标等，在传统高速的电性测量速度下，对MegaLED-SGM100测量速度要求加快许多。如图所示，其清楚的描述客户确实可以减少电子测量的时间，尤其是搭配LED分选机高速的测试需求。
　　新的可调式使用者接口组态与扩充的数组功能合并，以符合所有分BIN的要求。新的装置特征系依据统计分析及整体性考虑，也是针对白光晶圆与Lamp LED分选设备，都搭配了专用探测模块。
　　智联科技是一家专注于PCB抄板，IC芯片解密，电路板克隆，样机制作及批量代工等服务，几十年来为无数的客户解决了技术上的困扰，深得好评。